MEB de table et compact
Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.
Détecteur à rayon X pour MEB
Pour les microscopes électroniques TM4000 III et FlexSEM II, Oxford Instruments et Bruker Nano ont développé des détecteurs EDX adaptés pour la détection des éléments. Pour tous les autres systèmes de la gamme MEB Hitachi, tous les détecteurs standards du marché sont disponibles.
Oxford AZtecLiveOne
- Sans besoin de service, détecteur SDD à haute performance avec détection des éléments par système SATW de 30mm2 et refroidissement Peltier
