MEB de table et compact
Hitachi propose pour chaque application un MEB correspondant, du système de table jusqu’au système à émission de champ froid. Chaque système à ses avantage et nous saurons trouver lequel vous conviendra. En plus des systèmes présentés ci-dessous, Hitachi propose des solutions en TEM et FIB. N’hésitez pas à nous demander, nous sommes là pour vous accompagner.
TM4000 III (TM4000Plus III)
Réduisez votre charge de travail et obtenez des résultats plus homogènes.
- Plus d'automatisation grâce aux possibilités de macro pour les mouvements de porte-échantillon, les réglages d'agrandissement et la prise d'images.
- Mode 5, le nouveau réglage à fort courant avec un signal amélioré pour l'imagerie et l'analyse EDX des particules.
Planifier à l'avance
- Le TM4000III est équipé d'un système qui permet de surveiller la durée de vie restante des filaments et d'éviter ainsi qu'ils ne tombent en panne au moment où on en a le plus besoin, par exemple pour les expériences de cartographie EDX.
Plus de routine et moins de temps
- Les nouvelles fonctions vous aident à améliorer et standardiser votre contrôle qualité.
Détecteur à rayon X pour MEB
Pour les microscopes électroniques TM4000 II et FlexSEM II, Oxford Instruments et Bruker Nano ont développé des détecteurs EDX adapté pour la détection des éléments. Pour tous les autres systèmes de la gamme MEB Hitachi, tous les détecteurs standards du marché sont disponibles.
Oxford AZtecLiveOne
- Sans besoin de service, détecteur SDD à haute performance avec détetection des éléments par système SATW de 30mm2 et refroidissement Peltier
