TM4000 III (TM4000Plus III)

Réduisez votre charge de travail et obtenez des résultats plus homogènes.

Plus d'automatisation grâce aux possibilités de macro pour les mouvements du porte-échantillon, les réglages d'agrandissement et la prise d'images.
Mode 5, le nouveau réglage à fort courant avec un signal amélioré pour l'imagerie et l'analyse EDX des particules.

Planifier à l'avance

Le TM4000III est équipé d'un système qui permet de surveiller la durée de vie restante des filaments et d'éviter ainsi qu'ils ne tombent en panne au moment où on en a le plus besoin, par exemple pour les expériences de cartographie EDX.

Plus de routine et moins de temps

Les nouvelles fonctions vous aident à améliorer et standardiser votre contrôle qualité.

Spécifications

Microscope de table compact (L x P x H: 330 mm x 617 mm x 547 mm), sans besoin d’autre ressource, directement sur la paillasse.
Grossissement de 10x à 100'000x (250'000x)
Tension d’accélération de 5 kV, 10kV, 15 kV et 20kV
Bonne profondeur de champ grâce à la construction de l’optique du faisceau électron
Utilisation facile – chacun peut travailler avec
En option, table automatisée x,y et camera optique pour une meilleure navigation
Contraste des éléments grâce au détecteur d’électron rétro diffusé BSE (Détecteur BSE et UVD pour la visualisation des électrons secondaires de type SE), également Mix BSE et SE
Différents modes de visualisation pour une vue en topographie ou séparation des éléments
Recomposition d’image MEB à partir de plusieurs prises de vue (Stitching) (Fonction Multi ZigZag)
Fonction d’optimisation électronique de l’image pour une amélioration de la luminosité et du contraste
Report Creator pour un rapport personnalisé
Deux modes de vide pour une réduction des effets de charge
Outil logiciel pour la mesure des distances
Automatisation à l'aide de macros Possibilités de déplacement de la scène, de réglages de l'agrandissement et de prise d'images
Soutien d'un fonctionnement stable de l'appareil par l'affichage de l'indicateur de filament
En option, possible d’équiper un détecteur EDX (voir ci-dessous)