Applikationssupport

Untersuchungstechnologien für Oberflächen/Grenzflächen und Interfaces/Multilayer

Untersuchungen mit IR spektroskopischen Methoden und mikroskopischen Technologien:

ATR, Abgeschwächte Total-Reflexion

Golden Gate FTIR Spektren InterpretationMesstechnik orgSubst Polymere Kurs FPA 26 270821 PIAG Kopie

 

DRIFT, Diffuse Reflectance Infrared Fourier Transformation

Direkte Reflexion (Grazing Angle)

Selector MonolayerGrazingAngle

 

IR-Imaging/IR-Mikroskop mit Array Detektor

Selector Selector

 

REM (Raster-Elektronen-Mikroskopie) mit EDS (Energiedispersive Spektroskopie) gekoppelt

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Licht- und Stereomikroskopie, konfokale Mikroskopie (externer Kooperationspartner)

AFM, Atomic Force Microscopy (externer Kooperationspartner)

Allgemeine analytische Probleme oder Fragestellungen

  • Messtechnisch geeignetes Probenvorbereitung/-handling (für Proben aus QK, Prozessüberwachung, Forschung)
  • Anwendung der optimalen IR-Methode. Neben ATR, DRIFT etc. können IR-Spektren in Transmission, oder mit Gas- sowie Durchflusszellen aufgenommen werden
  • Identifizierung unbekannter Komponenten (IR-Strukturaufklärung u/o Datenbankrecherchen)
  • Quantifizierung chemischer Komponenten auf Basis Referenzsubstanzen
  • Methodenentwicklung, IR-Datenbanken Aufbau angepasst auf Ihre Prozesse / analytisches Umfeld

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Tel. 061 726 65 55
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